报告题目：正电子科学及其材料微结构表征应用

报 告 人：张宏俊 研究员

工作单位：中国科学技术大学核探测与核电子学国家重点实验室

报告时间：2023年2月28日上午10:00-11:30

报告地点：光伏材料省重点实验室 B座304室

报告内容：

正电子是携带电荷和自旋的主动搜寻式探针，在材料内会被各种缺陷或孔结构捕获，因此可以高灵敏度地识别电子性质发生变化的各种微结构。正电子湮没谱学可以为材料学研究提供宝贵的微结构信息：（1）晶体的原子级（亚纳米级）缺陷结构，包括缺陷的类型、尺寸、浓度（空位浓度可探测极限低至0.1 ppm）、以及化学环境。（2）多孔材料（包括封闭孔和开放孔）的孔结构，包括平均孔径、孔径分布、孔密度、孔壁最外原子层的化学环境。（3）高分子的自由体积信息，包括自由体积平均尺寸、尺寸分布、自由体积分数、以及化学环境。（4）微结构随深度（从最外原子层到几微米）的分布。中国科学技术大学粒子束交叉应用实验室已从事正电子湮没谱学研究四十多年，当前正致力于建设可在多种实验条件下对各种样品的微结构进行原位表征的正电子湮没谱学测量系统。

报告人简介：

张宏俊，中国科学技术大学特任研究员，博士生导师。 2011年于武汉大学获得理学博士学位。2012年至2015年在日本原子力研究开发机构担任博士研究员。2015年至2018年在日本筑波大学担任研究员。2018年起，在中国科学技术大学核探测与核电子学国家重点实验室担任特任研究员，在合肥微尺度物质科学国家研究中心担任兼职研究员。2018年起，担任中国核物理学会正电子谱学专业委员会委员。2021年获得中国核物理学会第一届“赵忠尧青年正电子科学家奖”。长期从事正电子湮没谱学及其材料微结构表征应用研究，已在PRL、JACS、Angew. Chem.、Adv. Mater.、Macromolecules、J. Membr. Sci.等重要学术期刊发表六十多篇研究论文。当前主要的研究兴趣为（1）新型正电子湮没谱仪装置开发；（2）宽禁带半导体的缺陷与光电性能；（3）二氧化碳分离膜的微孔结构与分离性能。